日本TOPCON 光学分光辐射计SR-NIR

日本TOPCON

高精度测定超微弱近红外光



产品概要

近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。

之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。

TOPCON在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，

开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。

本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。



特点

￭ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。

￭ 高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。

￭ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。



主要用途

￭ 观察各类FPD的近红外领域的输出。

￭ 观察Ne、Ar的光谱线输出。

￭ 光学膜等的近红外透过特性评价。

￭ 其他光源的近红外分光测量



技术规格

光亮采集 -

电子冷却型线性阵列传感器



波长分散原理 -

衍射光栅



光学系统 -

对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°



测定角 -

2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)



*小测定直径(mmφ) -

2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ)



测定距离 -

350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)



测定波长范围 -

600 – 1030nm



光谱波宽 -

6 – 8nm (半波宽)



波长分解能力 -

1nm

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