日本TOPCON VIS分光辐射计SR-LEDW-5N

日本TOPCON

对应超高对比度

SR系列的旗舰产品



产品概要

本产品量程极为宽广，*低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；

*高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的领先产品，

同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过*新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，

从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的

LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。



特点

￭ 量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。

￭ 搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)

￭ 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。

￭ 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。

￭ 光谱波宽、半波宽5nm





主要用途

￭ LED背光、LED照明器具的亮度・色度，以及色温度特性，显色性评价。

￭ LCD、OLED等，显示器的亮度・色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。

￭ 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。

￭ 作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。



技术规格

光亮采集 -

电子冷却型线性阵列传感器



波长分散原理 -

衍射光栅



光学系统 -

对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°



测定角 -

2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式



测定距离 -

350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)



光谱波宽 -

5nm *半波宽



波长精度 -

0.3nm *Hg 波宽线上



测定波长范围 -

380 – 780nm



波长分解能力 -

1nm



测定模式 -

自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入



测定内容 -

分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1

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