法国CAMECA 电子探针微量分析(EPMA)SXFive

法国CAMECA

应用于材料和地球科学的电子探针显微分析仪

SXFive结合先进的电子光学器件、先进的光谱仪设计和专用软件，能够在地球化学、矿物学、地质年代学、物理和核能冶金、材料科学（包括水泥、玻璃、陶瓷等）、生物化学以及微电子学领域完成高精度的定性和定量化学微区分析。

产品概述-



优化的电子枪筒

SXFive配备了与W和LaB6兼容的多功能电子枪。持续调节束流，每12小时0.3％的稳定性，从而实现可靠的长期定量分析。利用环形法拉第杯和静电偏转，可精确测量电子束强度。对于高原子序数的元素，高压系统工作电压高达30kV。高强度束流（数微安）可用于痕量元素测量和高速X射线成像。

SXFive可进行升级，配备场发射源（查看SXFiveFE型号）。



佳波长色散光谱仪（WDS）

波长色散光谱仪被公认为高精度定量分析的。SXFiveFE电子探针可多安装5个WDS波谱仪和一个能量色散光谱仪（EDS）。光电编码器可以确保光谱仪的精确定位，这些波谱仪可以垂直安装用于平面和抛光样品，也可对粗糙样品进行倾斜安装。高灵敏度晶体使计数率提高近3倍，同时保持峰噪比和光谱分辨率，并维持完整的光谱仪分析范围，使SXFive和SXFiveFE成为分析痕量元素和轻元素的仪器。



全集成的光学显微镜，实现简单的样品导览

使用数字电荷耦合器件（CCD）相机，在反射光下查看不透光样品，而薄片则在透射光下成像。光学图像的视场可通过电动透镜在250至1700微米之间连续调整，自动对焦系统可确保样品表面随时返回到正确对焦的位置。

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