美国Photron
Photron Crysta 是一款高速偏振相机，用于对双折射测量、薄膜厚度分析和表面粗糙度检测进行二维分析，是了解材料的双折射、延迟、应力和冲击断裂机制等现象的有力工具和液体。
目前建立的系统采用机械或电气驱动器作为偏振调制器，它们需要几个光电检测过程来测量偏振。为了克服这个问题，Crysta 采用采样率为 1.3 MHz 的高速二维双折射测量系统作为系统的核心器件，在图像传感器中具有 16 个并行读出电路以矩阵形式连接到每个像素都有单独的 A/D 转换器。
图像传感器的设计和制造采用了像素化偏振器阵列，该阵列由直接粘合到 CMOS 传感器的光子晶体制成，使该传感器中的光学系统能够抵抗振动。每个偏光片以一比一的比例对应于图像传感器的每个像素。每个偏光片和像素的尺寸为 20um x 20um。在偏振器阵列中，四个相邻的偏振器组 (2 x2) 被设置为在 0、45、90 和 135 度处具有不同的快轴方向，按顺时针排列。可以通过计算从图像传感器的像素中检测到的光强度来获得一个偏振数据。因此，并行读出电路被布置在相应的矩阵中。
代表从每个像素累积的光强度的电荷由多通道 A/D 转换器量化，并存储在相机的内存中。之后，我们对存储的数据应用相移分析过程，以获得双折射相位差的时间序列图像。
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